2017105961278：基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法

专利名称	【2017105961278】基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法					响应
声明编号	XK2023980001875	许可期限	2024-12-31	专利权人	湖北工业大学
生效日期	2024-04-02	许可费方式	无偿	支付标准	免费许可
联系方式	联系人姓名：熊瑛邮编：430068 地址：湖北省武汉市洪山区南李路28号电子邮箱：chengguoban@hbut.edu.cn 电话：027-59750139
访问次数	471	专利权人类型	大专院校	IPC分类号	G01M 11/02
备注