2020106713192：基于进化优化算法的反射式太赫兹时域光谱厚度测量方法

专利名称	【2020106713192】基于进化优化算法的反射式太赫兹时域光谱厚度测量方法					响应
声明编号	XK2025110000544	许可期限	2026-12-31	专利权人	北京工业大学
生效日期	2025-11-07	许可费方式	无偿	支付标准	0元
联系方式	联系人姓名：赵钰锦邮编：100124 地址：北京市朝阳区平乐园100号知新园408 电子邮箱：zhaoyujin@emails.bjut.edu.cn 电话：18210973947
访问次数	4	专利权人类型		IPC分类号	G01B 11/06
备注