2018116299064：基于光学平面条纹图像处理的干涉测量系统误差标定方法

专利名称	【2018116299064】基于光学平面条纹图像处理的干涉测量系统误差标定方法					响应
声明编号	XK2025980001518	许可期限	2028-03-24	专利权人	西安交通大学
生效日期	2025-04-11	许可费方式	无偿	支付标准	0元
联系方式	联系人姓名：朱新栋邮编：710048 地址：陕西省西安市碑林区咸宁西路28号电话：13992843923
访问次数	171	专利权人类型	大专院校	IPC分类号	G01B 9/02
备注