| 专利名称 |
【201910964596X】一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法 |
响应 |
| 声明编号 |
XK2025980016883 |
许可期限 |
2028-11-16 |
专利权人 |
西安工业大学 |
| 生效日期 |
2025-12-09 |
许可费方式 |
一次付清 |
支付标准 |
采用一次总付的方式，在合同生效后5日内一次性全额支付所有使用费126400元。 |
| 联系方式 |
联系人姓名：赵鹏程 邮编：710021 地址：陕西省西安市未央区学府中路2号西安工业大学 电子邮箱：zsdzpc@126.com 电话：17792722980 |
| 访问次数 |
1 |
专利权人类型 |
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IPC分类号 |
G01B 11/22 |
| 备 注 |
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