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专利名称 201110174762X一种应用于线列红外焦平面探测器的高稳定性倒焊基板 响应
声明编号 XK2025980010498 许可期限 2031-06-26 专利权人 中国科学院上海技术物理研究所
生效日期 2025-10-17 许可费方式 一次付清 支付标准 采用一次总付的方式,在合同生效后30日内一次性全额支付所有使用费100000元。
联系方式 联系人姓名:沈蓓丽 邮编:200083 地址:上海市虹口区玉田路500号 电子邮箱:shenbl@mail.sitp.ac.cn 电话:13636349245   
访问次数 5 专利权人类型 IPC分类号 H01L 23/538
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