| 专利号 | 2025107645655 | 申请日 | 2025-06-10 | 专利名称 | 整体测量光路衔接上转轴式激光跟踪仪转台转轴误差检测方法与装置 |
| 授权日 | 2025-08-19 | 专利权人 | 山东理工大学 | 发明人 | 毛帅;刘剑 |
| 主分类号 | G01B11/00 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本申请公开了一种整体测量光路衔接上转轴式激光跟踪仪转台转轴误差检测方法与装置，属于激光跟踪测量技术领域，包括：显微镜、荧光微球、基板、六维精密校准位移台，其中，所述显微镜位于所述荧光微球上方，所述荧光微球固定在所述基板上，所述基板固定在所述六维精密校准位移台上。本申请通过结合具有像散成像功能的荧光显微镜、精密位移台和空间坐标解算等操作，实现了在一个坐标系下对整体测量光路衔接上转轴式激光跟踪仪上下转台轴线空间直线方程确定以及一个完整旋转周期内轴径跳检测，为实现整体测量光路衔接上转轴式激光跟踪仪转台转轴误差补偿、提高激光跟踪仪的跟踪精度及稳定度做出必要的技术铺垫。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 高端装备制造 智能制造装备产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
