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专利号 202211607104X 申请日 2022-12-14 专利名称 一种基于子结构图卷积的分子特征提取方法
授权日 2025-09-16 专利权人 青岛大学 发明人 李臻;赵海光;张元明;潘守润;徐磊;夏雷鸣
主分类号 G16C20/50 关键词 应用领域
摘要 本发明公开了一种基于子结构图卷积的分子特征提取方法。本发明方法通过构建分子图结构,获取分子图结构中各原子点的原子特征后,基于混合多阶图卷积方法提取各原子点的多阶原子特征,结合注意力模型得到原子混合多阶向量,再建立子结构图获取各节点的节点特征后,根据原子混合多阶向量和子结构向量,基于融合子结构的交叉卷积方法,分别对混合多阶分子特征和一阶节点特征进行卷积计算并进行拼接,得到分子图结构中各原子点内各层的分子图卷积值,得到分子图结构中各原子点的分子特征属性,从而确定分子的分子特征。本发明充分综合了分子内各原子的原子特征及关联关系,有效避免了分子中关键基团信息的丢失,实现了对分子特征的精确提取。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新一代信息技术    新兴软件和新型信息技术服务
运营方式 合作方式
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