| 专利号 | 2025117838777 | 申请日 | 2025-12-01 | 专利名称 | 一种基于坐标变换的光通片缺陷检测方法及系统 |
| 授权日 | 2026-02-27 | 专利权人 | 烟台大学 | 发明人 | 李振;张淞凯;朱淑亮;崔继焱;魏广浩;魏崇宁;薛皓文;张家瑞;于涛 |
| 主分类号 | G06T7/00 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 一种基于坐标变换的光通片缺陷检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域。为了解决现有的检测需精密元件固定工件位姿、缺陷标记位置坐标难以精准定位的缺陷，本发明首先获取光通片图像的像素坐标系到世界坐标系的坐标变换公式；获取光通片图像的像素坐标系到光通片缺陷检测系统的世界坐标系的坐标变换公式；获取多个包含光通片单元的光通片放置台图像，同时进行图像初步处理；采用图像拼接技术融合得到光通片放置台图像的全局拼接图像，对纠正位姿后的光通片扫描并获取光通片拼接图像；整合缺陷坐标信息，完成缺陷分类；采用标记机构对缺陷进行整合，完成缺陷识别和缺陷标记。本发明主要用于对光通片的缺陷进行检测和定位。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 相关服务业 新技术与创新创业服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
