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专利号 2024110898096 申请日 2024-08-09 专利名称 基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备
授权日 2024-11-19 专利权人 齐鲁工业大学(山东省科学院) 发明人 李金红;赵琳琳;胡双霞;王岩
主分类号 G01N21/41 关键词 应用领域
摘要 本发明提出了一种基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备,方法包括:获取衍射条件下太赫兹波的一般场强表达式;基于一般场强表达式构建太赫兹辐射的波动方程,根据波动方程和高斯光束特性得到包含光束参数的场振幅;将场振幅代入一般场强表达式,得到包含光束参数的场强表达式;测量场强数值和太赫兹波沿z轴传播的实时数值,基于测量数值和包含光束参数的场强表达式得到光束的光斑尺寸;根据光斑尺寸计算复折射率。本发明考虑衍射条件下太赫兹高斯光束分布的情况,在此基础上给出太赫兹辐射在强衍射条件下的分布模型,根据高斯光束特性求解吸收系数参数,从而提高材料复折射率测量的准确性。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新材料产业    新材料相关服务
运营方式 合作方式
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【关 闭】