| 专利号 | 2020112653682 | 申请日 | 2020-11-12 | 专利名称 | 一种光栅投影三维测量方法及装置 |
| 授权日 | 2022-03-25 | 专利权人 | 齐鲁工业大学 | 发明人 | 李杰;李春龙;范华;白雪;刘永琪 |
| 主分类号 | G01B11/25 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种光栅投影三维测量方法及装置，采集两幅经待测物体调制的变形光栅图，两幅变形光栅图之间具有一定相移值；基于两幅变形光栅图的光强度，利用广义相移算法获得主值相位；基于主值相位获得待测物体三维形貌。本发明基于两幅变形光栅图的光强度，利用广义相移算法获得主值相位，再由主值相位获得物体三维形貌，整个过程只需记录两幅变形光栅图即可，且光栅图之间的相移值可以是任意未知量，降低了对仪器精度及环境的要求，基于该技术构建的三维测量系统测量效率高、应用范围广和仪器成本低。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 高端装备制造 智能制造装备产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
