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专利号 2024117946796 申请日 2024-12-09 专利名称 一种通过激光退火改善SiC晶锭激光切片表面粗糙度的方法
授权日 2026-01-02 专利权人 山东大学 发明人 陈秀芳;车林林;王荣堃;谢雪健;杨祥龙;徐现刚
主分类号 B23K26/38 关键词 应用领域
摘要 本发明涉及一种通过激光退火改善SiC晶锭激光切片表面粗糙度的方法。是先通过激光剥离的方式将SiC晶片从SiC晶锭上剥离,再利用激光在剥离后SiC晶片的表面形成退火层,最后将退火后SiC晶片的光滑面贴上UV膜放入减薄机中进行减薄,完成SiC晶锭激光切片。本发明所提供改善SiC晶锭激光切片表面粗糙度的方法利用了特定波长的激光,在剥离之后的SiC晶片表面形成退火层,降低了SiC晶片表面的粗糙度、降低了SiC晶片表面区域的强度,并且能够减少SiC晶片剥离后的隐藏在SiC晶片刀痕缝隙中的碎渣,SiC晶片在后续的减薄中的砂轮成本降低,也降低了SiC晶片的裂片率。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 高端装备制造    智能制造装备产业
运营方式 合作方式
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