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专利号 2021114999567 申请日 2021-12-09 专利名称 一种基于改进Phong模型的高反光零件测量方法及系统
授权日 2023-08-18 专利权人 中国石油大学(华东) 发明人 于连栋;陈晨;贾华坤;陈浩涵;李京效;陆洋
主分类号 G01B11/25 关键词 应用领域
摘要 本发明公开一种基于改进Phong模型的高反光零件测量方法,以及公开了一种采用基于改进Phong模型的高反光零件测量方法的测量系统。本发明通过基于将待测曲面CAD模型映射到二维参数域内,再重新映射到待测曲面CAD模型,得到扫描路径点,进而根据改进Phong反射模型进行镜面反射方向的求解,根据镜面反射方向调整工业相机的位姿,从而可以有效避免测量过程中待测零件表面的高反光现象,提高激光条纹提取精度,有效提高高反光零件测量数据的精度。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 高端装备制造    智能制造装备产业
运营方式 合作方式
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【关 闭】