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专利号 2023116056203 申请日 2023-11-29 专利名称 一种半导体器件及其制造方法
授权日 2024-03-01 专利权人 山东大学 发明人 韩吉胜;陈曦冉;汉多科·林纳威赫;崔鹏;徐明升;徐现刚
主分类号 H01L29/78 关键词 应用领域
摘要 本发明涉及一种半导体器件及其制造方法,属于半导体器件技术领域,包括由下到上依次设置的漏电极、n型半导体衬底、n型半导体层和非均匀掺杂p型半导体层,其中,非均匀掺杂p型半导体层表面外侧设置有p型半导体区域,内侧设置有n型半导体区域,非均匀掺杂p型半导体层中间位置设置有栅极沟槽,栅极沟槽底部设置有n型反掺杂区,栅极沟槽底部中心设置有局部氧化层,栅极沟槽其余位置设置有栅极绝缘层,栅极沟槽内设置有栅电极,p型半导体区域和n型半导体区域上侧设置有源电极,源电极与栅电极之间设置有绝缘电介质。本发明能够承受沟槽底部的角栅氧化物上的高电场应力,并通过氧化工艺减小了米勒电容。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新一代信息技术    电子核心产业
运营方式 合作方式
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【关 闭】