| 专利号 | 2026101622175 | 申请日 | 2026-02-05 | 专利名称 | 一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统 |
| 授权日 | 2026-04-03 | 专利权人 | 山东大学 | 发明人 | 何东欣;李和兴;李清泉;刘洪顺;任富强;张聪;郑晓彬 |
| 主分类号 | G01R31/12 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明涉及电气设备绝缘状态检测技术领域，具体为一种基于分子振动的绝缘封装材料劣化检测方法与系统，所述方法包括向待测绝缘封装材料试样施加周期性高压方波脉冲电压，检测待测绝缘封装材料受瞬态电场力激发的分子振动声波信号，捕获脉冲边沿后特定采集窗口内的瞬态分子振动波形，对采集到的瞬态分子振动波形进行多维度特征提取，将提取的瞬态分子振动波形的多维度特征，输入至预先构建的评估模型或与预设阈值进行比较，输出待测绝缘封装材料当前劣化程度或劣化评估结果。通过多维度特征提取振动波形的时域幅值、波形形态、弛豫时间、小波包熵，采用力学破坏与能量解离双重判据实现了绝缘封装材料的劣化程度评估。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新能源产业 智能电网产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
