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专利号 2016103085373 申请日 2016-05-10 专利名称 一种低应力高纯半绝缘SiC单晶的制备方法
授权日 2018-10-30 专利权人 山东大学 发明人 陈秀芳;徐现刚;彭燕;胡小波
主分类号 C30B23/00 关键词 应用领域
摘要 本发明涉及一种低应力高纯半绝缘SiC单晶的制备方法。该方法包括:高纯SiC粉料的合成和采用物理气相传输法进行晶体生长,在合成料和晶体生长过程中同时降低浅能级杂质浓度,对保温材料进行高温预处理,避免硼杂质融入;硅粉和碳粉原料放在有覆层的石墨坩埚中进行SiC合成;对得到的高纯SiC粉料进行预处理,下籽晶,抽真空,通入高纯氩气或者氩气和氢气的混合气体,进行晶体生长,然后快速降温增大点缺陷,再慢速降温至室温,消除应力。SiC晶体生长在平衡态下进行,制得的晶体应力小,微管密度小,晶体质量好,整片面积上电阻率在108Ω.cm以上。本方法设备投资小,安全性高,无污染。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新材料产业    先进无机非金属材料
运营方式 合作方式
联系人 联系电话 电子邮箱
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【关 闭】