| 专利号 | 2021106432418 | 申请日 | 2021-06-09 | 专利名称 | 一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质 |
| 授权日 | 2023-02-24 | 专利权人 | 聊城大学 | 发明人 | 白成林;于新阔;唐雪;曹领国;杨立山;许恒迎;孙伟斌 |
| 主分类号 | H04B10/073 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质，属于短距光通信中光性能监测技术领域，该方法包括：对待处理SVDD信号进行预处理，以及进行重采样；进行轨迹信息的量化处理，提取轨迹信息中的隐藏特征；对隐藏特征进行匹配。本发明仅需一次特征提取即能够对SVDD‑BPSK、SVDD‑QPSK、SVDD‑8QAM、SVDD‑16QAM、SVDD‑32QAM以及SVDD‑64QAM实现精准的联合调制格式识别、OSNR监测和RCD估计。满足短距通信对低计算复杂度、多参数联合监测，监测精度高的需求。本发明基于轨迹信息中蕴含的丰富的差异性特征，具有应用到骨干光网络和其他线性或非线性损伤监测的潜力。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新一代信息技术 下一代信息网络产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
