| 专利号 | 202511633138X | 申请日 | 2025-11-10 | 专利名称 | 微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法 |
| 授权日 | 2026-01-30 | 专利权人 | 山东大学 | 发明人 | 魏铭洋;赵显;周翔安;连洁;王晓;崔宝山;刘建志 |
| 主分类号 | G01N21/21 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种微区磁光参数、光学常数和磁畴综合测试分析系统及方法，属于磁性材料测试与分析技术领域，系统包括：光源模块，用于发射平行光束；匀光整形模块，用于对入射的平行光束进行补偿，输出均匀平行光束；偏振调制模块，用于偏转均匀平行光束生成线偏振光，并调制线偏振光的偏振态，生成具有高偏振态的近似线偏振光并检偏；电磁铁样品台，用于放置待测样品并调控待测样品所处的磁场环境；成像探测模块，用于采集经待测样品作用后的光强信号并转化为图像数据；控制与分析模块，用于控制各模块的运行，根据采集的光强信号和图像数据，计算待测样品的光学常数、磁光参数以及动态观测磁畴变化。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新材料产业 新材料相关服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
