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专利号 202210528375X 申请日 2022-05-16 专利名称 光性能监测方法、装置、设备及存储介质
授权日 2024-06-11 专利权人 聊城大学 发明人 杨立通;杨立山;白成林;许恒迎;孙伟斌;周唐磊;赵熙杰;胡保业
主分类号 H04B10/079 关键词 应用领域
摘要 本发明提供了一种光性能监测方法、装置、设备及存储介质,该光性能监测方法包括:对接收的光信号进行预处理,得到接收符号;将所述接收符号映射至星座图的一象限;获取所述星座图的一象限中相邻接收符号之间的跳变信息;利用所述相邻接收符号之间的跳变信息来构造邻接矩阵;对所述邻接矩阵进行特征分解,得到最大特征值对应的特征向量,所述特征向量与所述光信号的调制格式和/或光信噪比相关;将所述最大特征值对应的特征向量输入至预训练的一维卷积神经网络,得到所述光信号的调制格式的分类结果和/或光信噪比。该方法利用更具泛化能力的一维卷积神经网络,以提高调制格式识别结果和光信噪比估计结果的准确率。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新一代信息技术    下一代信息网络产业
运营方式 合作方式
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