| 专利号 | 2022107378595 | 申请日 | 2022-06-27 | 专利名称 | 基于递推规范变量残差和核主元分析的微小故障检测方法 |
| 授权日 | 2023-06-06 | 专利权人 | 中国人民解放军海军航空大学 | 发明人 | 史贤俊;秦玉峰;秦亮;聂新华;王朕 |
| 主分类号 | G05B23/02 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明涉及故障诊断技术领域，尤其涉及一种基于递推规范变量残差和核主元分析的微小故障检测方法，首先构造规范变量残差,从中提取数据的线性特征，利用指数加权滑动平均法对规范变量残差进行递推滤波处理,提高规范变量残差对微小故障的敏感程度，然后使用KPCA提取规范变量残差中的非线性主成分作为非线性特征,根据提取的特征提出了两个新的故障检测统计量；此外,利用核密度估计确定故障检测统计量的控制限。由于同时提取了过程数据的线性和非线性特征,有效地提高了非线性动态过程中微小故障的可检测性。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 高端装备制造 智能制造装备产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
