| 专利号 | 2018107068499 | 申请日 | 2018-07-02 | 专利名称 | 一种基于偏振拉曼光谱对SiC晶体声子各向异性的测试方法 |
| 授权日 | 2021-02-19 | 专利权人 | 山东大学 | 发明人 | 陈秀芳;秦笑;杨祥龙;徐现刚;胡小波 |
| 主分类号 | G01N21/65 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种基于偏振拉曼光谱对SiC晶体声子各向异性的测试方法，包括步骤如下：(1)将SiC晶体分别加工，得到a面、c面和m面样品，并进行抛光；(2)在拉曼光谱仪的入射光路中加入半波片，在背散射光路中加入偏振片；(3)固定偏振片的方向，旋转半波片以改变入射偏振光与散射偏振光的相对方向，测试偏振拉曼光谱；(4)对不同声子模的峰进行拟合，获得平面模E1，E2以及轴向模A1的拉曼强度；(5)对平面模E1，E2以及轴向模A1的拉曼峰强度进行归一化处理律；(6)得到不同声子模的各向异性。本发明通过优化测试参数，有效的表征了SiC晶体不同极性面中声子的各向异性。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新材料产业 新材料相关服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
