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专利号 2024119181642 申请日 2024-12-25 专利名称 一种电枢表面磨损评估方法及系统
授权日 2025-04-25 专利权人 山东大学 发明人 刘洪顺;刘路遥;张黎;李清泉;何东欣;王冠;任富强;赵彤;王晓龙;孙滢;路鹏飞;冯景桐
主分类号 G06T7/00 关键词 应用领域
摘要 本发明涉及电枢损失研究领域,提供了一种电枢表面磨损评估方法及系统,电枢表面磨损评估方法,包括:分别控制充电电压和初始粗糙度作为单一变量,在电磁导轨发射实验平台上进行电枢磨损实验,计算每次实验的磨损率,测量磨损后的表面粗糙度;基于充电电压、初始粗糙度、磨损率和磨损后的表面粗糙度,建立电枢磨损的数值模型;将充电电压和初始粗糙度输入电枢磨损的数值模型,预测磨损率和磨损后的表面粗糙度。本发明通过建立的电枢磨损的数值模型可以根据充电电压和初始粗糙度,快速得出电枢磨损率和磨损后的表面粗糙度,降低了实验成本,提高损失评估的效率。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 相关服务业    新技术与创新创业服务
运营方式 合作方式
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【关 闭】