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专利号 2023115767481 申请日 2023-11-24 专利名称 一种版图结构、半导体器件和其制造方法
授权日 2024-03-08 专利权人 山东大学 发明人 汉多科·林纳威赫;陈曦冉;韩吉胜;崔鹏;徐现刚
主分类号 H01L29/78 关键词 应用领域
摘要 本发明公开了一种版图结构、半导体器件和其制造方法,属于半导体器件技术领域,传统沟槽MOSFET承受高击穿电压的可靠性低,本发明在传统沟槽MOSFET器件结构之上进行改进,栅极氧化层和沟槽MPS的角落都被包裹在高掺杂浓度的p型半导体区域内,从而减小氧化层角落处的电场强度。沟槽底部为较低掺杂的p型区域,使反向大电流下MPS的pn结更容易导通,嵌入沟槽MPS可以有效减少双极退化效应,并且沟槽MPS的肖特基接触面积大,开启电压更小。本发明采用再生长技术,实现了p型区域的深度嵌入,相比于高能量离子注入,使用再生长技术能够大幅降低制造成本,减小技术难度。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新一代信息技术    电子核心产业
运营方式 合作方式
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