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专利号 2018100335361 申请日 2018-01-15 专利名称 一种基于X射线源的密度测井方法
授权日 2021-05-25 专利权人 中国石油大学(华东) 发明人 张锋;田立立;李亚芬;王阳;赵靓;邱飞;陈前
主分类号 E21B49/00 关键词 应用领域
摘要 本发明提供了一种基于X射线源的密度测井方法,包括测井仪器,测井仪器设置在井眼中,井眼的周围为地层,测井仪器在井眼中进行连续深度的测量,测井仪器包括NaI探测器,NaI探测器的下端连接有钨镍铁屏蔽体,钨镍铁屏蔽体的下端连接有X射线源。本方法通过X射线源连续向地层发射X射线,NaI探测器探测X射线谱,并选取一定范围的X射线计数,根据地层密度和X射线计数响应规律,计算地层密度。该基于X射线源的密度测井方法与现有的伽马源进行密度测井的方式相比,避免了辐射危害,提供了一种安全可控性密度测井方法,对地层密度测量更加精确。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 高端装备制造    海洋工程装备产业
运营方式 合作方式
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【关 闭】