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专利号 2017112211844 申请日 2016-01-21 专利名称 一种基于纳米级单层阻变膜的忆阻器制备方法
授权日 2020-09-11 专利权人 山东科技大学 发明人 窦刚;郭梅
主分类号 H01L45/00 关键词 应用领域
摘要 本发明公开了一种基于纳米级单层阻变膜的忆阻器制备方法,其运用阻变膜在偏压下产生的空穴和电离氧离子为载流子,并依靠其产生量的变化,以实现器件电阻变化的原理,在现有技术的基础上,从简化工艺和改进阻变膜材料配方两方面着手:省略了阻变膜陶瓷材料的预先烧结步骤、并选用金属离子化合价更高、陶瓷烧结温度更低的原料、采用更低的煅烧温度,以使Ca2+部分对Bi3+进行A位取代,以增加阻变膜内部晶格缺陷和空穴、增大了阻变膜层分子结构的不对称性等技术手段,简化了制备工艺、提高了生产效率、降低了生产能耗和生产成本;同时大幅提升了忆阻器的忆阻性能和成品率。
创新点
技术分类 标 签 战兴产业 新一代信息技术    电子核心产业
运营方式 合作方式
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【关 闭】