| 专利号 | 2020106449950 | 申请日 | 2020-07-07 | 专利名称 | 一种基于X射线岩性密度测井计算地层光电吸收截面指数的方法 |
| 授权日 | 2023-04-07 | 专利权人 | 中国石油大学(华东) | 发明人 | 于华伟;张宇昕;王文定;陈翔鸿;周悦 |
| 主分类号 | E21B49/00 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种基于X射线岩性密度测井计算地层光电吸收截面指数的方法，该方法采用X射线岩性密度测井装置，按照如下步骤进行：步骤1：X射线源释放X射线与地层发生光电效应、康普顿散射作用后被探测器接收，以探测器探测的X射线能谱为依据，选定低能窗和高能窗，其计数分别为NL、NH，计算地层体积光电吸收截面指数U；步骤2：利用体积与光电吸收截面指数的关系，Pe可以表示为：Pe＝U/ρe；式中，ρe是地层电子密度指数，在X射线岩性密度测井中，ρe为测量参数之一，则在计算光电吸收截面指数时，可视为已知数。本发明可以有效消除地层密度对测量地层光电吸收截面指数Pe的影响，大幅度提高测量精度。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 高端装备制造 海洋工程装备产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
