| 专利号 | 2021102121778 | 申请日 | 2021-02-25 | 专利名称 | 一种考虑双向尺度的电路故障特征提取方法 |
| 授权日 | 2023-02-24 | 专利权人 | 中国人民解放军海军航空大学 | 发明人 | 徐学文;盛沛;盖炳良;郑振;戴勇军;白玉;张广法 |
| 主分类号 | G06F30/20 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种考虑双向尺度的电路故障特征提取方法，包括S1：在横轴方向上，对所采集的电压波形进行区间划分；S2：在每个小区间内，选取纵向尺度δY，将小区间进一步划分；S3：重复步骤S201～S202，计算所有小区间相交盒子数量并求和，即可得到波形的盒子总数，记为MX,Y(F)；S4：取不同的δX及δY，分别计算MX,Y(F)‑δY及MX,Y(F)‑δY双对数曲线图，得到曲线斜率k；S5：构造以横向尺度δX、纵向尺度δY、双对数曲线斜率k为坐标轴的立体坐标系，则坐标系内较为平缓的部分k值即为所求的分形盒维数值；S6：对提取出来的分形盒维数值进行检验。本发明中的电路故障特征提取方法综合考虑电路纵向信号采集精度及横向信号周期等关键因素，对分形盒维数算法进行改变，从而提高了电路故障诊断的准确性。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新一代信息技术 新兴软件和新型信息技术服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
