| 专利号 | 2024116581145 | 申请日 | 2024-11-20 | 专利名称 | 一种基于芬顿反应的晶体位错的检测方法 |
| 授权日 | 2025-02-18 | 专利权人 | 山东大学 | 发明人 | 王丽焕;徐奥雪;张雷;徐现刚 |
| 主分类号 | G01N1/40 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明属于晶体检测技术领域，涉及晶体位错的检测，具体涉及一种基于芬顿反应的晶体位错的检测方法。将晶体加入至芬顿试剂中进行芬顿反应5~30 min，将利用电子显微镜和/或原子力显微镜对芬顿反应后晶体的表面位错进行检测；其中，芬顿试剂中，过氧化氢的质量浓度为0.5~10%；亚铁离子以硫酸亚铁计的质量浓度为0.05~5%。本发明能够在常温下氧化晶体，并通过显微镜观测氧位错坑，检测晶体位错的分布和尺寸。本发明提供的检测方法不仅可以作为CL方法的替代，对于检测晶体中小尺寸的位错具有极大优势。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 相关服务业 新技术与创新创业服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
