| 专利号 | 2025107405859 | 申请日 | 2025-06-05 | 专利名称 | 基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法 |
| 授权日 | 2025-08-22 | 专利权人 | 山东理工大学 | 发明人 | 张起;张兴南 |
| 主分类号 | G01N21/27 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明公开了基于光谱的光学材料缺陷深度检测方法，属于缺陷检测技术领域，包括以下步骤：获取待检测光学材料的高光谱图像特征参数，基于高光谱图像特征参数确定是否存在缺陷；若不存在缺陷，则检测结束；若存在缺陷，则确定初步缺陷区域以及缺陷类型；获取初步缺陷区域的拉曼光谱特征参数，并基于拉曼光谱特征参数确定最终缺陷区域；在最终缺陷区域进行太赫兹光谱深度扫描，得到太赫兹光谱特征参数，并构建缺陷深度信息图谱；基于高光谱图像特征参数、拉曼光谱特征参数和太赫兹光谱特征参数进行缺陷深度反演，得到缺陷深度预测结果。本发明解决了传统方法难以准确检测光学材料内部缺陷深度的问题，具有高精度、全面性和适应性。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新材料产业 新材料相关服务 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
