| 专利号 | 2022116850636 | 申请日 | 2022-12-27 | 专利名称 | 基于长短期记忆网络的双探针电子密度诊断方法及系统 |
| 授权日 | 2026-02-24 | 专利权人 | 山东大学 | 发明人 | 杜清府;周钰;王进;陈佳宇;杨雪;张清和;李延辉;邢赞扬;郭新;高东兴;孙祺 |
| 主分类号 | H05H1/00 | 关键词 | 应用领域 | ||
| 摘要 | 本发明提出了基于长短期记忆网络的双探针电子密度诊断方法及系统，涉及等离子体领域。包括：搭建等离子体模拟真空仓，获取双探针I‑V特性曲线数据，计算同一位置三探针电子密度；构建双向长短期记忆网络模型，将双探针I‑V特性曲线数据作为输入特征、将三探针电子密度作为标签，对双向长短期记忆网络模型进行训练，得到训练好的双向长短期记忆网络模型；将待测试的双探针I‑V特性曲线数据输入到训练好的双向长短期记忆网络模型，输出诊断结果。本发明使用同一位置的双探针I‑V特性曲线数据作为特征、三探针Ne作为标签训练双向长短期记忆网络模型,解决了双探针由于只能收集等离子体中高能部分电子而导致的无法直接测量Ne的问题，且所需采集双探针I‑V特性曲线的点数较少。 | ||||
| 创新点 | |||||
| 技术分类 | 标 签 | 战兴产业 | 新一代信息技术 电子核心产业 | ||
| 运营方式 | 合作方式 | ||||
| 联系人 | 联系电话 | 电子邮箱 | |||
| 详细说明 | |||||
